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アピールポイント

AFミクロン深さ高さ測定機

新発想オートフォーカス測定機AFM-30

光切断によるスリット像観察とスポット光像によるＡＦ（オートフォーカス）追従を組み合わせた新しいタイプの深さ高さ測定機です。

製品長所

・広い視野での観察が必要な測長やAF観察に利用可能。
・NAに依存する必要がないので、入受光が任意に設定でき、用途に応じた光学システム設計・製作が可能。
・他社のAF方式に比してもユニットのメンテナンスが容易であり、追従速度が高速である。
・リアルタイムで高低が認識でき、測定箇所の選定が容易。
・即時測定ができる測定タクトの優位性
・低倍率ユニットであることによる操作性・取扱の容易
・原価率が低いため優位な価格設定が可能

用途

・生産現場における精密測定測定
・オートフォーカス機能を生かした高さ測定
・エレクトロニクス分野を中心とした生産現場全般

動画

AFミクロン深さ高さ測定器（AFM-30型）
更新日：2018/02/08

弊社は長年培われた光学技術を背景に、弊社は創業当初より自社ブランド製品の光学機器を製造販売しております。レンズの設計から研磨、金属部品の加工まで、光学機器製作に必要な技術及び生産設備を保有しており、設計から製造まで全て自社で一貫した製品つくりを行っております。

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