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最終更新日時： 2021/07/28 12:00:25
法人番号：5330001017344

株式会社TOP

パワー半導体用検査装置開発、パワーデバイス検査コンサルティング、自動車用電子部品・センサー検査装置開発、半導体検査環境開発（テストプログラム、BOST等）など

私どもは「パワー半導体検査」「自動車用電子部品・センサー検査」をキーワードに、半導体テスタ技術を応用した半導体、自動車電子部品関連製品の測定及び測定技術を提供します。

計測技術で地域に貢献する

現在主流のシリコン製、今後発展する新素材（SiCなど）に必要な試験機能・性能の提供。

①低インダクタンステスト環境(15nH以下）の提供。②大電流(8000A)・高電圧試験環境(4000V)の提供。③高温（300℃）試験環境の提供。④高周波電流測定(200MHz)試験環境の提供。

ワンストップ　サービスの提供

①パワー半導体検査用ハンドラー（搬送装置）の同時提供。
②パワー半導体検査時必要な特殊コンタクタの同時提供。
③各種自己診断機能の提供により迅速なMTTRの提供。

【書籍掲載等】
「日経産業新聞」当社記事紹介